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近场暗室
    发布时间: 2022-06-24 09:09    

由于天线测量要满足远场条件 R≥2D²/λ。因此对大口径天线、阵列天线远场暗室的尺寸变的很大,建设成本过高,所以对大口径天线、阵列天线目前在室内都选择近场法测试天线的辐射特性。

近场暗室

由于天线测量要满足远场条件 R2D²/λ。因此对大口径天线、阵列天线远场暗室的尺寸变的很大,建设成本过高,所以对大口径天线、阵列天线目前在室内都选择近场法测试天线的辐射特性。
  近场法的优点:测量速度快,精度高,并且还可以对天线进行诊断,查找问题,对暗室性能、尺寸要求不高,因此近年来随着测量仪器的进步获得了广泛的应用  

  近场法测量天线辐射特性是利用测量待测天线口面上的场的分布:幅度和相位,再通过近、远场变换,得到远场天线的辐射方向图和参数
为了能精确测量待测天线口面场的分布,在暗室中设置精密场探头、扫描架和精密导轨,实现天线对天线口面作平面、柱面和球面扫描。
使用MT25硬质吸波材料完全满足近场测试需求。
RFT可以根据客户的要求定制近场暗室配置。