根据天线测量距离的远近，天线的测量场地有近场测试暗室和远场测试暗室。 远场测试是指在直接测量待测天线的在远场数据。避免近场测试会由于多径效应和外界干扰等原因造成误差因此，在天线测量中远场测试往往更加可靠。用于满足远场测试的天线暗室称之为远场暗室。
远场暗室的设计，首先得确认如下指标：
  暗室的尺寸：一般指暗室内部有效空间尺寸，或屏蔽体的内尺寸
  静区：指暗室内杂波（含反射波、绕射和散射波）干扰最小的区域。 静区的大小和形状 与暗室的类型、工作频率、吸收材料特性、要求的反射电平有关。矩形暗室的静区是指在暗室的纵轴线上的圆柱体， 其静区直径可以用以下公式估 计：静区直径 D≥；R:满足远场条件的静区与源天线之间的距离；λ：是工作波长 从公式中可以看到静区尺寸随工作频率的上升而缩小
  反射率电平:反射率电平的定义是等效反射场与直接照射场之比。所谓等效反射场是指暗室内的杂波干扰场总和。暗室内任意点反射电平的大小与吸收材料的特性、暗室结构、收发天 线的方向性、频率、极化状态等多种因素有关。精确计算比较困难，一般通过实验来测定
  交叉极化特性：交叉极化是指电磁波在传输过程中，产生的与原极化特性相正交的极化分量之大小，它表征了电磁波的极化纯度。必须注意：这里所指的交叉极化特性与收发天线本身的交叉极化特性不同，前者由暗室（包括材料性能）的不对称引起的，后者则是由于天线加工精度不够造成的。通常用正交极性能优异的一对天线来测量暗室交叉极化特性的大小，为了保证一定的测试精度，源天线交叉极化隔离度应≥35dB，暗室该值一般为25dB左右  

  多路径损耗均匀性：它是指暗室内电磁波传输路径损耗的不均匀性， 这对圆极化天线的测量尤为重要。因为如果暗室内的路径损耗不一样，则发射的虽是圆极化波， 但是到了接收点后就变成椭圆极化波了，显然会给测量带来误差。这种不均匀性一般限制在+/-0.25dB 之内
  场强幅值均匀性：它是指源天线照射置于静区的待测天线时， 天线口面上场强振幅值的不均匀程度。 一般要求静区横向幅值变化不超过+/-0.25 dB，纵向幅值变化在 2dB 以内
  频率范围：静区工作频率范围的下限取决于暗室的宽度和吸收材料的高度，上限则取决于暗室的长度和对静区反射电平的要求程度
吸收材料选择
微波暗室性能的优劣除与设计是否合理相关之外，与吸收材料性能的好坏和铺设方法有很大关系。对微波暗室设计而言，就是根据要求的静区反射电平选择各墙面所铺的吸收材料的反射率及其布置。吸收材料的外形做成锥形，锥角在24°以内，其目的是改善材料与空间的匹配，减少反射，从而提高吸波率。  材料的吸收性能与材料总高度有关。Comtest公司推出的新型MT系列吸波材料， 被广泛运用到了微波暗室行业，值得大家关注。此吸波材料除了能满足微波暗室反射电平测试要求。 
RFT可以根据客户的要求定制远场暗室配置。